Microscope métallographique de qualité recherche avec microscope métallurgique 4K Ultra HD et autofocus à grande scène 4K. Le microscope métallurgique de qualité recherche à mise au point automatique 4K adopte Réglage du grossissement en 5 étapes, avec un grossissement allant de 380× à 6080×. La scène mobile extra-large peut tenir échantillons de grande taille. Les images 4K ultra-claires offrent des détails de microstructure nets et délicats. Le port trinoculaire peut être connecté à des caméras et à un logiciel d'analyse métallographique, bien adapté à l'observation de gros métaux, semi-conducteurs inspection, analyse de tranches de PCB, recherche scientifique et contrôle qualité.
Cet instrument convient à l'observation microscopique des microstructures métallographiques et de la morphologie des surfaces. Il constitue un outil de recherche idéal pour les disciplines de la métallurgie, de la minéralogie et de l'ingénierie de précision.
Caméra 4K intégrée au boîtier trinoculaire pour une visualisation simultanée via des oculaires et un moniteur externe. Multiport sortie via HDMI, USB3.0 et WIFI transmettent des micro-images ultra-HD en temps réel.
Grossissement optique 50-800× ; Le grossissement numérique pur maximum atteint 6080X avec un jeu de cinq objectifs. Précision le chemin optique fournit des détails précis pour la micro-inspection des puces et des plaquettes.
Le module de mise au point automatique matériel intégré permet une mise au point fluide et sans vibration et améliore l'efficacité des échantillons de masse tests; Le mode de mise au point manuelle est également disponible.
Platine mobile extra-large associée à une base métallique épaisse intégrée. Reste stable pour les échantillons de grande taille sans vaciller pendant une observation de longue durée.
Cadre métallique rigide de style laboratoire intégré minimaliste, parfaitement adapté aux ateliers de semi-conducteurs et aux universités laboratoires et installations de contrôle qualité.
Idéal pour l'inspection des puces et des plaquettes ; également largement appliqué pour les tests de semi-conducteurs, l'analyse métallographique, travaux de recherche sur les matériaux et d'évaluation de la qualité.
Prend en charge l'enregistrement photo et vidéo 4K, les modes de double mesure (écran intégré + logiciel PC). Double stockage via Disque U & ordinateur. La synthèse de profondeur de champ fonctionne à la fois sur le moniteur et sur le logiciel PC ; la fonction d'assemblage d'images est disponible uniquement dans Logiciel PC. Le développement secondaire est pris en charge pour l'archivage, la comparaison et l'analyse avancée des images.
Stade du spécimen :Le GP-L500-462H adopte une platine mobile de grande taille pour les puces/plaquettes grand format avec large plage de déplacement. Les microscopes métallurgiques ordinaires sont équipés d'une platine de petite taille uniquement pour les petits échantillons et nécessitent un repositionnement fréquent des échantillons.
Plage de grossissement :Grossissement élevé à cinq vitesses 380-6080X, offrant des détails nets pour les plus petits inspection du circuit à puce. Les microscopes métallurgiques ordinaires ont moins de grossissements et un maximum inférieur grossissement, ce qui entraîne des images floues sous une puissance élevée.
Imagerie et mesure :Caméra native 4K de qualité recherche, mesure intégrée sur le moniteur, fonction de stockage photo-vidéo. Les microscopes métallurgiques ordinaires adoptent une caméra 2K basse définition sans bord Pour la mesure, un logiciel PC est obligatoire pour le travail d'analyse.
Champ d'application :Optimisé pour les plaquettes, les semi-conducteurs et les pièces électroniques de grande précision inspection. Les microscopes métallurgiques ordinaires ne conviennent qu'aux petites tranches de métal et fonctionnent mal pour les grandes tranches de métal. spécimens de puces.
Mécanique:Construction entièrement métallique pour une rigidité et une résistance aux vibrations élevées. Mise au point automatique matérielle module équipé. Mise au point grossière-fine de précision sans jeu. Platine XY manuelle de grande taille à faible usure et dégagement minimal. Le chemin optique trinoculaire maintient le co-alignement optique lors du changement d'objectif.
Optique:Objectifs métallurgiques plan-achromatiques corrigés à l'infini avec revêtement dur anti-buée. Éclairage par lampe halogène 6V-30W à lumière réfléchie.
Imagerie et mesure :Caméra CMOS 4K de 8,3 mégapixels de qualité industrielle. Interfaces multi-sorties : HDMI + USB3.0 + WIFI, offrant d'excellentes performances anti-interférences pour les applications en environnement industriel. Prend en charge à la fois les mesures intégrées à l'écran et les mesures basées sur un logiciel PC. Stockage à double chemin : clé USB et logiciel PC. La fonction d'empilement en profondeur de champ est disponible à l'écran et via un logiciel PC ; l'assemblage d'images La fonction est prise en charge uniquement par le logiciel PC. L'interface de développement secondaire est accessible via USB3.0 / WIFI.
Environnement opérationnel :Température de fonctionnement 10-35℃, humidité relative 30-75% HR. Stable sous conditions régulières environnement électromagnétique d'usine. Évitez les fortes vibrations, les gaz corrosifs et les fortes poussières. Gardez le module WIFI à l'écart sources d’interférences de signaux fortes.
Qualité et entretien :Inspection d'usine de l'article complet. Ne démontez pas les modules optiques ou module de mise au point automatique. Un nettoyage régulier anti-poussière prolongera la durée de vie.
Plaquettes et puces semi-conductrices (application principale) :
Plaquettes de silicium, tranches de lithographie, puces IC, tubes MOS, PCB, circuits flexibles FPC, joints de soudure emballés.
Cibles d'inspection : circuits internes de micropuces, revêtements de plaquettes, défauts de gravure, bulles d'emballage, soudure à froid
joints, oxydation et déformation des broches.
Échantillons métallographiques et composants de coupe de métal :
Profilés métallographiques, aciers alliés, pièces métalliques embouties avec précision.
Cibles d'inspection : structure des grains métalliques, analyse métallographique du traitement thermique, microfissures de surface,
éclats de pointe, bavures, traces d'usure et impuretés internes du matériau.
Échantillons de laboratoire : poudre, fibre et couche mince :
Poudre métallique, poudre chimique, fibre de carbone, fibre textile, films de revêtement optique.
Observez la morphologie des particules, la texture des fibres, le délaminage du film et les structures de micro-revêtement.
Composants optoélectroniques et plastiques de précision :
Puces LED, lentilles optiques, pièces moulées par injection, colle pour emballages de semi-conducteurs.
Détectez les micropores, les taches de surface, les bords rugueux, le délaminage, les bulles et les minuscules défauts cosmétiques.
Composants miniatures de précision de grande taille :
Connecteurs, cosses, micro-ressorts, pièces embouties de grandes dimensions, pièces de grandes dimensions.
La platine mobile extra-large peut accueillir des échantillons surdimensionnés ; Mesure précise au niveau des pixels 4K pour les espaces et les trous
diamètres, différences de hauteur et dimensions linéaires.
Laboratoires académiques et usine de semi-conducteurs QC :
Expériences de recherche sur les matériaux, inspection complète des marchandises entrantes et des produits finis pour les semi-conducteurs,
observation d'échantillons métallographiques ; Archivage photo/vidéo, connexion au PC pour exporter des mesures professionnelles QC
rapports.
Cette unité offre une imagerie native 3840*2160 4K. Il convient à l'inspection précise des semi-conducteurs, des PCB et des tranches de matériaux ainsi que l'exportation de rapports de tests, révélant clairement de minuscules textures et micro-défauts.
Mise au point automatique matérielle équipée. Convient à l'inspection de la production de masse et au remplacement fréquent des échantillons. Réalise rapidement se concentrer après le mouvement de l'échantillon sans réglage manuel répété.
La grande platine mobile et le chemin optique métallurgique trinoculaire vertical sont conçus pour les plaquettes de grande taille, pleine grandeur PCB et des échantillons de métal, supprimant efficacement l'éblouissement réfléchissant.
Plage de double grossissement : grossissement optique 50-800X, grossissement numérique 380-6080X. Couvre les deux spécimen global observation et inspection micro-grains/micro-défauts.
Prend en charge la mesure intégrée sur l'appareil et la mesure par logiciel PC. Equipé d'une sortie HDMI, USB3.0 et WIFI ports. Les photos, vidéos et données de mesure peuvent être enregistrées via un disque U ou un ordinateur. Développement secondaire soutenu pour intégration de la ligne de production et traçabilité des données de laboratoire.
Une expédition dans un emballage neutre est disponible sur demande.
| Article | Description |
| Produit | GP-L500-462H Microscope métallographique de qualité recherche avec 4K Ultra HD et mise au point automatique |
| Catégorie | Inspection et mesure métallurgiques autofocus 4K à grande plate-forme de qualité recherche industrielle Microscope |
| Technologies de base | Système optique trinoculaire à visualisation synchrone, platine d'échantillon mobile sur une grande surface, haute puissance métallurgique ensemble d'objectifs, capteur d'imagerie CMOS ultra-HD 4K, module matériel de mise au point automatique, triple canal boîte de vitesses (HDMI+USB3.0+WIFI), système de double mesure, synthèse de profondeur de champ et algorithme d'assemblage d'images, architecture ouverte prenant en charge le développement secondaire |
| Spécifications clés | Grossissement visuel : 50/100/200/500/800× ; Grossissement électronique : 380/760/1520/3800/6080× (6080X est pur zoom numérique); Ports triple sortie : HDMI + USB3.0 + WIFI ; Résolution de capture 4K : 3 840 × 2 160 ; Matériel mise au point automatique équipée ; Modes de mesure double : mesure précise intégrée + logiciel PC dédié mesure; Modes de double stockage : stockage local sur disque U + stockage sur logiciel PC ; Le terminal de moniteur prend en charge les dimensions mesure, aperçu d'image HD, enregistrement photo-vidéo, synthèse de profondeur de champ ; Prise en charge des terminaux PC mesure dimensionnelle, stockage de fichiers, synthèse de profondeur de champ et assemblage d'images ; Prise en charge de l'unité entière intégration du développement secondaire. |
| Applications typiques | Inspection de microstructures de plaquettes et de puces de semi-conducteurs, observation de composants électroniques de grande taille, métal analyse métallographique de la structure des grains, détection des circuits d'emballage, inspection des sections transversales des PCB, analyse de précision des défaillances des composants électroniques, tests de qualité des nouveaux matériaux énergétiques, recherche universitaire-en-matériaux-avancés-en laboratoire |
| Fabricant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Emplacement du fabricant | Kunshan, Jiangsu, Chine (à côté de Shanghai) |
| Modèle | GP-L500-462H |
| Résolution | 3840×2160 |
| De vrais pixels efficaces | 8,3 mégapixels |
| Méthode de mise au point | mise au point automatique |
| Format optique | 1/1,8" |
| Taille des pixels | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Méthode de sortie | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Introductions fonctionnelles détaillées correspondant à chaque interface de sortie | ① HDMI se connecte aux écrans compatibles 4K. Prise en charge du micrologiciel de traitement d'image professionnel intégré
Mise au point automatique pilotée par matériel, enregistrement photo, enregistrement vidéo, mesure dimensionnelle, lecture d'image
et
comparaison d'images, opérée par la souris en temps réel. ② USB 3.0 se connecte à l'ordinateur, fourni avec Logiciel de traitement d'image professionnel de haute qualité pour la capture de photos, la mesure dimensionnelle, fusion de profondeur de champ et assemblage d'images. ③ Le module WIFI se connecte aux ordinateurs portables ou aux appareils mobiles ; en temps réel transmission d'images, photographie et stockage via un logiciel de correspondance. |
| Fréquence d'images | HDMI : 60 ips à 3 840 × 2 160 USB3.0 : 30 ips à 3 840 × 2 160 ; 60 images par seconde à 1920 × 1080 Wi-Fi : 30 ips à 3 840 × 2 160 ; 60 ips @1920×1080 |
| Synthèse de profondeur de champ | Pris en charge à la fois par le micrologiciel HDMI sur le moniteur et par le logiciel PC |
| Assemblage d'images | Pris en charge uniquement du côté du logiciel PC |
| Méthode de mesure | Système de mesure intégré sur moniteur + mesure par logiciel PC |
| Précision des mesures | 0,002-0,005 mm |
| Unités de mesure | mm / μm / mil / pouce (4 unités commutables) |
| Outils de mesure | Longueur, angle, radian, cercle, polygone, polyligne, distance centre à centre, rectangle, annotation ajoutant, détection automatique des bords, barre d'échelle et plus encore |
| Méthode de stockage | Stockage sur disque U + stockage de logiciels PC |
| Langue d'affichage | Chinois simplifié/anglais (commutable) |
| Processeur | Processeur de contrôle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Système opérateur | Micrologiciel de mesure développé indépendamment basé sur le noyau Linux 3.1 |
| Nommage des images | Dénomination automatique ou manuelle disponible |
| Tête de visualisation | Tête trinoculaire à charnière inclinée à 30° ; plage de réglage inter-pupillaire : 53 mm-75 mm |
| Modes d'observation | Champ clair / éclairage oblique / polarisation simple |
| Système d'éclairage | Système d'éclairage à lumière tombante réfléchi uniquement, entrée large tension 100-240 V, filament réglable centre, intensité lumineuse réglable en continu. |
| Rester | ① Crémaillère de type prise de vue, mécanisme de mise au point coaxial grossier-fin à position basse, avec verrouillage et
limitant
appareils; valeur de graduation à mouvement fin : 0,7 μm. Éclairage à lumière réfléchie par lampe halogène. ② Champ clair réflecteur avec butée d'ouverture variable, butée de champ et unité de commutation de filtre de couleur. ③ Jaune, bleu, vert filtres et feuille de verre dépoli fournis pour le chemin optique de la lumière réfléchie. |
| Scène mécanique | ★Plateforme mobile mécanique. Dimension de la scène : 280 mm × 270 mm ; Déplacement X-Y : 204 mm × 204 mm (déplacement de 8 pouces). Verre plaque porte-échantillon pour l'observation en lumière réfléchie uniquement, adaptée aux pièces de grandes dimensions. |
| Source de lumière | Chambre à lampe halogène 6 V 30 W (lumière réfléchie uniquement) |
| Polarisation simple | Polariseur pull-push et polariseur |
| Interface électronique | Interface de caméra à mise au point fixe CTV 1X ; CTV 0,5X est facultatif avec compensation de différence de prix. |
| Oculaires | Deux oculaires à champ plan grand angle WF10X/22 mm avec réglage dioptrique individuel |
| Embout nasal | ★Mingchang porte-objectif à cinq trous |
| Objectifs métallurgiques | ★Objectifs métallurgiques plan-achromatiques corrigés à l'infini ① PL L5X/0,12, distance de travail : 26,1 mm ×1 pièce ② PL L10X/0,25, distance de travail : 20,2 mm × 1 pièce ③ PL L20X/0,40, distance de travail : 8,80 mm ×1 pièce ④ PL L50X/0,70, distance de travail : 3,68 mm × 1 pièce ⑤ PL L80X/0,80, distance de travail : 1,25 mm ×1 pièce |
| Grossissement optique | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (commutable sur cinq niveaux) |
| Grossissement électronique | Env. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (commutable sur cinq niveaux) ; plage optionnelle : 190-3040X. |
Les microscopes GAOPIN sont utilisés par les principales entreprises, instituts de recherche et universités. Notre collaboration les relations comprennent :
Institut de céramique de Shanghai, CAS – Micro-analyse de céramiques inorganiques et de matériaux à énergie nouvelle
Institut de Recherche en Génie Physique et Chimique de l’Industrie Nucléaire – Observation Micro-morphologie & analyse de composants de précision pour matériaux spéciaux
Institut d'optique et de mécanique fine de Shanghai, CAS – Recherche optique avancée et composants optiques caractérisation
Université Tsinghua – Enseignement, imagerie en laboratoire et archivage de données expérimentales
Institut de technologie de Pékin – Recherche-analyse scientifique sur les matériaux militaires et les dispositifs optoélectroniques
DOOV – Inspection d'assemblage d'appareils mobiles, tests d'écran et d'apparence de composants
A1 : équipé d'interfaces HDMI, USB3.0 et WIFI. Il prend en charge l'affichage direct sur moniteur et les PC filaires/sans fil connexion.
A2 : Il prend en charge l’enregistrement photo et vidéo 4K ultra-HD. Les fichiers peuvent être enregistrés sur un disque U au format FAT32 dans un délai de 32 Go capacité ou stockage informatique. Prend en charge les mesures de précision à l'écran et sur logiciel PC, avec sauvegarde des données et fonctions d'exportation de rapports.
A3 : Il prend en charge la mise au point automatique matérielle, la synthèse de profondeur de champ, l'assemblage d'images côté PC et le développement secondaire. Largement appliqué pour l'analyse métallographique, l'inspection des semi-conducteurs, l'inspection des composants de précision, recherche scientifique, enseignement et détection de précision industrielle haut de gamme.
A4 : Dépannage sans image : Vérifiez l'alimentation électrique, le câble HDMI et la source du signal du moniteur, puis redémarrez l'appareil. Dépannage d'image floue : réglez le volant de mise au point manuelle, posez l'échantillon à plat et nettoyez la surface de l'objectif. Panne de réseau dépannage : placez le PC et l'appareil dans le même segment IP, désactivez le pare-feu et reconnectez le câble réseau. Erreur de disque U dépannage : remplacez ou reformatez le disque U (doit être FAT32 et ≤32 Go).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. a été officiellement constituée en 2011. Nos membres fondateurs ont accumulé savoir-faire pratique en matière d'instruments optiques depuis 2005. Nous fournissons un support complet couvrant la conception optique personnalisée, R&D interne, ventes internationales et services complets de maintenance après-vente. Notre équipe d'ingénieurs qualifiés possède plus de dix ans d'expertise en développement-microscopie, garantissant des performances techniques stables et fiabilité constante du produit.
GAOPIN fournit plus de 100 catégories d'instruments de test optique, au service des clients industriels et de laboratoire partout dans le monde. Nous nous concentrons sur la fourniture de solutions d'inspection par microscopie sur mesure, flexibles et rentables pour satisfaire exigences de tests diverses.
Pour les acheteurs étrangers, nous fournissons une assistance technique mondiale réactive, y compris des consultations en ligne à distance, tutoriels vidéo pratiques et formation en direct sur le fonctionnement des équipements à distance. Notre usine de production est située à Kunshan, Province du Jiangsu, avec un accès pratique aux transports vers Shanghai. Les visites d'usine sur site et les visites virtuelles en ligne sont accueilli. Veuillez contacter notre équipe commerciale pour obtenir des photos de tests d'échantillons authentiques capturées par cette qualité de recherche. microscope métallographique avec 4K Ultra HD et autofocus pour évaluer les performances d'imagerie réelle.
Adresse
Bâtiment 2, centre d'affaires international Shuanglian, ville de Huaqiao, ville de Kunshan, Chine
Tél
