Le GP-L500-324K est un microscope métallographique de qualité recherche avec 4K Ultra HD. Il prend en charge le grossissement en 5 étapes commutation de 380× à 6080×. La platine mobile extra-large intégrée peut accueillir facilement des échantillons de grande taille. Le microscope métallurgique de qualité recherche 4K Ultra HD offre 4K images ultra haute définition avec des détails de microstructure nets. Le port trinoculaire prend en charge l'installation de la caméra et connexion au logiciel d'analyse métallographique. Il est idéal pour l'observation de la métallurgie des matériaux de grande taille, semi-conducteur inspection, analyse de tranches de PCB et travaux de contrôle qualité en laboratoire industriel.

Ce microscope métallurgique 4K Ultra HD de qualité recherche convient à l'observation microscopique des microstructures métallographiques et de la morphologie des surfaces. Il constitue un outil de recherche idéal pour les disciplines de la métallurgie, de la minéralogie et de l'ingénierie de précision.
Caméra 4K intégrée dans le boîtier trinoculaire pour une visualisation simultanée via des oculaires et un moniteur externe. Double port la sortie via HDMI et Gigabit LAN transmet des micro-images ultra-HD en temps réel.
Grossissement optique 50-800× ; Le grossissement numérique maximum atteint 6080X (zoom numérique pur) avec objectif à cinq objectifs ensemble. Le chemin optique de précision fournit des détails précis pour la micro-inspection des puces et des plaquettes.
Les boutons de mise au point coaxiaux associés à un ensemble objectif-barillet renforcé permettent une mise au point stable et minimisent les tremblements de l'image.
Platine mobile extra-large associée à une base métallique épaisse intégrée. Reste stable pour les échantillons de grande taille sans vaciller pendant une observation de longue durée.
Cadre métallique rigide de style laboratoire intégré minimaliste, parfaitement adapté aux ateliers de semi-conducteurs et aux universités laboratoires et installations de contrôle qualité.
Idéal pour l'inspection des puces et des plaquettes, les tests de semi-conducteurs, l'analyse métallographique, la recherche sur les matériaux, enseignement-universitaire et le travail d'évaluation de la qualité.
Capture photo et vidéo 4K, modes de double mesure (écran intégré + logiciel PC). Double stockage via U-disk et ordinateur. Les fonctions de synthèse de profondeur de champ et d'assemblage d'images fonctionnent exclusivement sur les logiciels PC pris en charge. Le développement secondaire est pris en charge sur le port LAN pour l’archivage, la comparaison et l’analyse avancée des images.
Visualisation binoculaire et observation électronique synchrone :Travail de vue oculaire et d’affichage du moniteur de manière synchrone. Les microscopes métallurgiques ordinaires ne prennent en charge que l'observation oculaire ; des accessoires d'appareil photo supplémentaires sont requis pour la sortie à l’écran.
Scène de grande taille, ultra-haut grossissement et imagerie 4K :Le grossissement optique maximal atteint 800X ; Le grossissement électronique numérique pur maximum atteint 6080X. La scène mobile surdimensionnée peut accueillir échantillons de grande dimension avec sortie 4K native. Les microscopes métallurgiques conventionnels adoptent une scène de travail de petite taille avec une résolution inférieure et un grossissement limité.
Interfaces à double sortie :Port HDMI + Gigabit-LAN. Les microscopes métallurgiques ordinaires ont interface unique sans port réseau pour l'intégration du système.
Modes de double mesure :Mesure intégrée hors ligne sur le moniteur et mesure par logiciel PC. Les microscopes métallurgiques ordinaires ne prennent en charge que les mesures logicielles côté PC.
Modes de double stockage :Stockage sur disque U hors ligne et stockage sur logiciel PC, sauvegarde des données disponible avec ou sans ordinateur connecté. Les modèles conventionnels nécessitent une connexion PC pour la sauvegarde des images.
Développement secondaire soutenu :Le port LAN permet une intégration automatique du système. Général les microscopes métallurgiques ne prennent pas en charge la capacité de développement secondaire.
Chemin optique métallurgique dédié :Optimisé pour le grain métallique, le revêtement et analyse métallographique des matériaux. Les microscopes numériques ordinaires n'ont pas ce chemin optique spécialisé et ne peuvent pas visualiser des structures métallographiques.
Mécanique:Construction entièrement métallique pour une rigidité et une résistance aux vibrations élevées. Précision mise au point grossière-fine sans jeu. Platine XY manuelle de grande taille avec une faible usure et un jeu minimal. Trinoculaire le chemin optique maintient le co-alignement optique lors du changement d'objectif.
Optique:Objectifs métallurgiques plan-achromatiques corrigés à l'infini avec revêtement dur anti-buée. Éclairage par lampe halogène 6V-30W à lumière réfléchie.
Imagerie et mesure :Caméra CMOS industrielle 4K de 8,3 mégapixels. Double sortie : HDMI + Gigabit-LAN port, bonnes performances anti-interférences pour une utilisation en environnement industriel. Prend en charge les mesures intégrées sur le moniteur et mesure du logiciel PC. Pré-calibré en usine ; les paramètres persistent après la mise hors tension ; pas d'étalonnage quotidien requis. Stockage à double chemin via U-disk et logiciel PC. La synthèse de profondeur de champ et l'assemblage d'images sont disponibles uniquement sur le logiciel PC. L'interface de développement secondaire est disponible via le port LAN.
Environnement opérationnel :Température de fonctionnement 10-35℃, humidité relative 30-75% HR. Stable sous conditions régulières environnement électromagnétique d'usine. Évitez les fortes vibrations, les gaz corrosifs et les fortes poussières.
Qualité et entretien :Inspection d'usine de l'article complet. Ne démontez pas les modules optiques. Régulier le nettoyage anti-poussière prolongera la durée de vie.
Plaquettes et puces semi-conductrices (application principale) :
Plaquettes de silicium, tranches de lithographie, puces IC, tubes MOS, PCB, circuits flexibles FPC, joints de soudure emballés.
Cibles d'inspection : circuits internes de micropuces, revêtements de plaquettes, défauts de gravure, bulles d'emballage, soudure à froid
joints, oxydation et déformation des broches.
Échantillons métallographiques et outils de coupe :
Profilés métallographiques, aciers alliés, forets, fraises, pièces métalliques embouties avec précision.
Cibles d'inspection : structure métal-grain, analyse métallographique du traitement thermique, microfissures de surface,
éclats de pointe, bavures, traces d'usure et impuretés internes du matériau.
Échantillons de laboratoire : poudre, fibre et couche mince :
Poudre métallique, poudre chimique, fibre de carbone, fibre textile, films de revêtement optique.
Observez la morphologie des particules, la texture des fibres, le délaminage du film et les structures de micro-revêtement.
Composants optoélectroniques et plastiques de précision :
Puces LED, lentilles optiques, pièces moulées par injection, colle pour emballages de semi-conducteurs.
Détectez les micropores, les taches de surface, les bords rugueux, le délaminage, les bulles et les minuscules défauts cosmétiques.
Composants miniatures de précision de grande taille :
Connecteurs, cosses, micro-ressorts, pièces embouties de grandes dimensions, pièces de grandes dimensions.
La platine mobile extra-large peut accueillir des échantillons surdimensionnés ; Mesure précise au niveau des pixels 4K pour les espaces et les trous
diamètres, différences de hauteur et dimensions linéaires.
Laboratoires académiques et contrôle qualité en usine de semi-conducteurs :
Expériences de recherche sur les matériaux, inspection complète des marchandises entrantes et des produits finis pour les semi-conducteurs,
observation d'échantillons métallographiques ; Archivage photo/vidéo, connexion au PC pour exporter des mesures professionnelles
Rapports QC.
La grande plate-forme étendue permet une observation complète des plaquettes, des gros PCB et des grosses tranches de métal sans découpe d'échantillons. Parfait pour l'inspection des semi-conducteurs, des circuits imprimés et des gros composants matériels.
Grossissement réglable par étapes : optique 50x-800x ; Grossissement numérique maximum jusqu'à 6080X (zoom numérique pur). Captures aspect général de la pièce et détails ultra-fins tels que les circuits à puces, les grains métalliques, les micro-rayures et revêtement-pores. Idéal pour les tests de R&D sur les semi-conducteurs.
Le chemin optique synchrone trinoculaire permet une observation simultanée via des oculaires binoculaires et un moniteur HDMI. Convient pour la discussion en équipe de R&D, la double vérification du contrôle qualité et l'enseignement en laboratoire universitaire afin de réduire les erreurs de jugement.
Sortie HDMI unique avec fonction de mesure intégrée sur le moniteur. Les photos et vidéos 4K peuvent être enregistrées directement sur disque U conforme. L'installation plug-and-play s'adapte aux stations d'inspection de base dans les ateliers de semi-conducteurs et laboratoires de petits matériaux.
Corps anti-vibration intégré épais avec mise au point manuelle grossière-fine. Performances de mise au point fluides sans changement d'image lors d'une inspection continue de longues heures. Durable pour les tests entrants de masse quotidiens pour les plaquettes et circuits imprimés et analyse en laboratoire d'échantillons statiques de longue durée.
Une expédition dans un emballage neutre est disponible sur demande.
| Article | Description |
| Produit | GP-L500-324K Microscope métallographique de qualité recherche avec 4K Ultra HD |
| Catégorie | Inspection et mesure métallurgiques trinoculaires 4K à grande plate-forme de qualité recherche industrielle Microscope |
| Technologies de base | Système optique trinoculaire à visualisation synchrone, platine d'échantillon mobile sur une grande surface, haute puissance métallurgique ensemble d'objectifs, capteur d'imagerie CMOS ultra-HD 4K, système de double mesure (intégré au moniteur mesure + mesure du logiciel PC), transmission du signal double canal HDMI + Gigabit-LAN, technologie double stockage, architecture ouverte prenant en charge l'amarrage de développement secondaire |
| Spécifications clés | Grossissement visuel : 50/100/200/500/800× ; Grossissement électronique : 380/760/1520/3800/6080× (6080X est pur zoom numérique); Interfaces à double sortie : port HDMI + Gigabit-LAN ; Résolution de capture 4K : 3 840 × 2 160 ; Mise au point manuelle seulement; Modes de mesure double : mesure précise intégrée + mesure par logiciel PC dédié ; Double stockage modes : stockage local sur disque U + stockage de logiciels PC ; Le terminal du moniteur prend en charge la mesure dimensionnelle, HD photo aperçu, archivage de photos et de fichiers ; Le terminal PC prend en charge la mesure dimensionnelle et la sauvegarde d'images ; Unité entière prend en charge l’intégration du développement secondaire via LAN. |
| Applications typiques | Inspection de microstructures de plaquettes et de puces de semi-conducteurs, observation de composants électroniques de grande taille, métal analyse métallographique de la structure des grains, détection des circuits d'emballage, inspection des sections transversales des PCB, tests de qualité des nouveaux matériaux énergétiques, recherche universitaire en laboratoire sur les matériaux avancés |
| Fabricant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Emplacement du fabricant | Kunshan, Jiangsu, Chine (à côté de Shanghai) |
| Modèle | GP-L500-324K |
| Résolution | 3840×2160 |
| De vrais pixels efficaces | 8,3 mégapixels |
| Méthode de mise au point | Mise au point manuelle uniquement |
| Format optique | 1/1,7" |
| Taille des pixels | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Méthode de sortie | Port Ethernet HDMI + LAN Gigabit |
| Introductions fonctionnelles détaillées correspondant à chaque interface de sortie | ① HDMI se connecte aux écrans compatibles 4K. Prise en charge du micrologiciel de traitement d'image professionnel intégré
enregistrement de photos, enregistrement vidéo, mesure dimensionnelle, lecture d'images et comparaison d'images, actionné
par
souris en temps réel. ② Le port LAN Gigabit se connecte aux routeurs, commutateurs ou ordinateurs pour l'image réseau transmission. Les ordinateurs appartenant au même segment de réseau peuvent recevoir des vidéos en temps réel et déclencher la capture. via logiciel correspondant. |
| Fréquence d'images | HDMI : 60 ips à 3 840 × 2 160 Réseau local Gigabit : 20 images par seconde à 1 920 × 1 080 |
| Synthèse de profondeur de champ | / |
| Assemblage d'images | / |
| Méthode de mesure | Système de mesure intégré sur moniteur + mesure par logiciel PC |
| Précision des mesures | 0,001 mm |
| Unités de mesure | mm / μm / mil / pouce (4 unités commutables) |
| Outils de mesure | Longueur, angle, radian, cercle, polygone, polyligne, distance centre à centre, rectangle, annotation ajoutant, détection automatique des bords, barre d'échelle et plus encore |
| Méthode de stockage | Stockage sur disque U + stockage de logiciels PC |
| Langue d'affichage | Chinois simplifié/anglais (commutable) |
| Processeur | Processeur de contrôle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Système opérateur | Micrologiciel de mesure développé indépendamment basé sur le noyau Linux 3.1 |
| Nommage des images | Dénomination automatique ou manuelle disponible |
| Tête de visualisation | Tête trinoculaire à charnière inclinée à 30° ; plage de réglage inter-pupillaire : 53 mm-75 mm |
| Modes d'observation | Champ clair / éclairage oblique / polarisation simple |
| Système d'éclairage | Système d'éclairage à lumière tombante réfléchi uniquement, entrée large tension 100-240 V, filament réglable centre, intensité lumineuse réglable en continu. |
| Rester | ① Crémaillère de type prise de vue, mécanisme de mise au point coaxial grossier-fin à position basse, avec verrouillage et
limitant
appareils; valeur de graduation à mouvement fin : 0,7 μm. Éclairage à lumière réfléchie par lampe halogène. ② Champ clair réflecteur avec butée d'ouverture variable, butée de champ et unité de commutation de filtre de couleur. ③ Jaune, bleu, vert filtres et feuille de verre dépoli fournis pour le chemin optique de la lumière réfléchie. |
| Scène mécanique | ★Plateforme mobile mécanique. Dimension de la scène : 280 mm × 270 mm ; Déplacement X-Y : 204 mm × 204 mm (déplacement de 8 pouces). Verre plaque porte-échantillon pour l'observation en lumière réfléchie uniquement, adaptée aux pièces de grandes dimensions. |
| Source de lumière | Chambre à lampe halogène 6 V 30 W (lumière réfléchie uniquement) |
| Fonction de polarisation simple | Polariseur et analyseur de type push-pull installés |
| Interface électronique | Interface de caméra à mise au point fixe CTV 1X ; CTV 0,5X est facultatif avec compensation de différence de prix. |
| Oculaires | Deux oculaires à champ plan grand angle WF10X/22 mm avec réglage dioptrique individuel |
| Embout nasal | ★Mingchang porte-objectif à cinq trous |
| Objectifs métallurgiques | ★Objectifs métallurgiques plan-achromatiques corrigés à l'infini ① PL L5X/0,12, distance de travail : 26,1 mm ×1 pièce ② PL L10X/0,25, distance de travail : 20,2 mm × 1 pièce ③ PL L20X/0,40, distance de travail : 8,80 mm ×1 pièce ④ PL L50X/0,70, distance de travail : 3,68 mm × 1 pièce ⑤ PL L80X/0,80, distance de travail : 1,25 mm ×1 pièce |
| Grossissement optique | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (commutable sur cinq niveaux) |
| Grossissement électronique | Env. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (commutable sur cinq niveaux) ; plage optionnelle : 190-3040X. |
Les microscopes GAOPIN sont utilisés par les principales entreprises, instituts de recherche et universités. Notre collaboration les relations comprennent :
Université Tsinghua – Enseignement, imagerie en laboratoire et archivage de données expérimentales
Université de Fudan – Micro-nanomatériaux et recherche-observation microscopique biomédicale
Dabo Medical – Analyse micromorphologique pour dispositifs médicaux de type implant et biomatériaux
Université de commerce de Tianjin – Enseignement des matériaux en laboratoire, micro-imagerie et archivage des données expérimentales
Université Xi'an Jiaotong – Observation expérimentale en science avancée des matériaux et en optique de précision
GREE Electric Appliances (Hefei) – Mesure dimensionnelle de précision et inspection des défauts des pièces d’appareils électroménagers
A1 : équipé d'un port HDMI + Gigabit-LAN. Il prend en charge l'affichage direct sur moniteur et la connexion réseau avec l'ordinateur.
A2 : Il prend en charge l’enregistrement photo et vidéo 4K ultra-HD. Les fichiers peuvent être enregistrés sur un disque U au format FAT32 dans un délai de 32 Go capacité. Prend en charge les mesures à l'écran et sur logiciel PC, avec des fonctions d'enregistrement de données et d'exportation de rapports.
A3 : Dépannage sans image : Vérifiez l'alimentation électrique, le câble HDMI et la source du signal du moniteur, puis redémarrez l'appareil. Dépannage d'image floue : réglez le volant de mise au point manuelle, posez l'échantillon à plat et nettoyez la surface de l'objectif. Panne de réseau dépannage : placez le PC et l'appareil dans le même segment IP, désactivez le pare-feu et reconnectez le câble réseau. Erreur de disque U dépannage : remplacez ou reformatez le disque U (doit être FAT32 et ≤32 Go).
A4 : Le développement secondaire est pris en charge via le port LAN. Largement utilisé pour l'analyse métallographique, les matériaux métalliques tests, métallurgie des poudres, inspection des semi-conducteurs, inspection des composants de précision, recherche scientifique et expériences pédagogiques.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. a été officiellement fondée en 2011. Notre équipe de direction fondatrice a accumulé expérience dans l'industrie des équipements d'inspection optique à partir de 2005. Nous fournissons des solutions de bout en bout couvrant conception de systèmes optiques, R&D indépendante, distribution mondiale de produits et maintenance après-vente à long terme prestations. Notre personnel d'ingénierie de base dédié possède plus de dix ans d'expérience pratique en développement dans Instruments optiques, garantissant une technologie stable et éprouvée et une qualité fiable.
GAOPIN dispose d'une large gamme de produits composée de plus de 100 instruments d'inspection optique différents, servant clients industriels et de laboratoire sur les marchés internationaux. Nous nous concentrons fortement sur le développement de produits sur mesure, des solutions de microscopie rentables pour satisfaire les demandes d'inspection uniques de différentes industries.
Pour les partenaires étrangers, nous proposons une assistance technique mondiale accélérée, y compris des vidéoconférences en ligne, des conseils vidéo opérationnels étape par étape et une formation des utilisateurs à distance en direct. Notre base de fabrication est située à Kunshan, Jiangsu Province, avec des liaisons de transport pratiques vers Shanghai. Les inspections d'usine sur site et les visites virtuelles en ligne sont accueilli. Veuillez contacter notre équipe commerciale pour obtenir des photos de tests d'échantillons authentiques capturées par ce métallographique de qualité recherche. microscope avec 4K Ultra HD pour évaluer les performances d'imagerie réelle.
Adresse
Bâtiment 2, centre d'affaires international Shuanglian, ville de Huaqiao, ville de Kunshan, Chine
Tél
