Le microscope métallurgique GP-L600-324K 4K Ultra HD pour l'inspection des plaquettes est un microscope métallurgique d'inspection des plaquettes de qualité recherche avec 4K Ultra HD. Il adopte un système optique corrigé à l'infini, avec un module Nomarski DIC en option pour détecter la hauteur de surface à l'échelle nanométrique variantes. L'instrument prend en charge l'observation en champ clair et en lumière polarisée. Le port trinoculaire facilite installation de la caméra et connexion avec un logiciel d'analyse métallurgique. Il convient aux flux de travail comprenant recherche métallographique, inspection des semi-conducteurs et analyse des défaillances des matériaux.
Ce microscope métallurgique 4K Ultra HD pour l'inspection des plaquettes convient à l'observation microscopique des microstructures métallographiques et de la morphologie des surfaces. Il constitue un outil de recherche idéal pour les disciplines de la métallurgie, de la minéralogie et de l'ingénierie de précision.
| Article | Description |
| Produit | Microscope métallurgique d'inspection de plaquettes GP-L600-324K avec 4K Ultra HD |
| Catégorie | Microscope métallurgique trinoculaire de qualité recherche en laboratoire, compatible avec les interférences différentielles DIC, observation en champ clair / champ sombre / lumière polarisée |
| Technologies de base | Système optique trinoculaire à visualisation synchrone, éclairage intégré multimode (champ clair, champ sombre, polariseur, DIC à interférence différentielle-contraste), professionnel de haute précision métallurgique ensemble d'objectifs, capteur d'image CMOS ultra-HD 4K, système de double mesure (intégré au moniteur Mesure + mesure par logiciel PC), transmission de signal double canal HDMI + Gigabit-LAN, double stockage technologie, architecture ouverte prenant en charge l’accès au développement secondaire |
| Spécifications clés | Grossissement visuel : 50/100/200/500× ; Grossissement électronique : 190/380/760/1900× ; Double sortie interfaces : port HDMI + Gigabit-LAN ; Résolution de capture 4K : 3 840 × 2 160 ; Mise au point manuelle uniquement ; Double mesure modes : mesure précise intégrée + mesure adaptée au logiciel PC ; Modes de double stockage : U-disk stockage + stockage de logiciels informatiques ; Terminal moniteur : mesure des dimensions, aperçu des images HD, archivage des photos ; Terminal PC : mesure des dimensions, stockage de photos ; L'unité entière prend en charge l'amarrage de développement secondaire. |
| Applications typiques | Analyse des défaillances de plaquettes de semi-conducteurs, inspection métallographique des matériaux métalliques, revêtement de couches minces observation de microstructures, tests de précision de boîtiers de semi-conducteurs, laboratoire de matériaux avancés recherche, observation médicale des biomatériaux, détection de micro-défauts pour les composants électroniques |
| Fabricant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Emplacement du fabricant | Kunshan, Jiangsu, Chine (à côté de Shanghai) |
Caméra 4K intégrée au boîtier trinoculaire pour une visualisation simultanée via oculaire et moniteur. Sortie double port via HDMI et Gigabit-LAN transmet des micro-images ultra-HD en temps réel.
Prend en charge l'observation DIC, en champ clair, en champ sombre et en lumière polarisée. Grossissement en 4 étapes, optique 50-500X, max numérique grossissement jusqu'à 1900X, offrant des détails nets pour l'inspection des micro-caractéristiques.
Les deux boutons de mise au point coaxiaux associés à un ensemble objectif-barillet renforcé permettent une mise au point stable et minimisent l'image trembler.
Le support métallique épais intégré et le support de scène abaissent le centre de gravité, gardant le microscope stable pendant inspection de longue durée de qualité recherche.
Disposition optique modulaire avec corps en métal rigide, bien adaptée aux laboratoires, aux instituts de recherche et aux semi-conducteurs installations de fabrication.
Optimisé pour l'inspection des plaquettes et des puces ; également largement appliqué pour les tests de semi-conducteurs, l'analyse métallographique, travaux de recherche sur les matériaux et d'évaluation de la qualité et de la précision.
Capture photo et vidéo 4K, modes de double mesure (écran intégré + logiciel PC). Double stockage via U-disk et ordinateur. Les fonctions de synthèse de profondeur de champ et d'assemblage d'images fonctionnent exclusivement sur les logiciels PC pris en charge. Le développement secondaire est pris en charge sur le port LAN pour l’archivage, la comparaison et l’analyse avancée des images.
1. Modes d’observation optique :Prend en charge les optiques multimodes, notamment DIC, champ clair et champ sombre et lumière polarisée pour l'observation de la texture des cristaux et des revêtements. Les microscopes métallurgiques ordinaires fournissent uniquement champ clair de base et ne peut pas visualiser des couches ultra-minces et des microstructures cristallines.
2. Système d'imagerie :Caméra native 4K ultra-HD, visualisation synchronisée oculaire et moniteur. Ordinaire les microscopes métallurgiques adoptent une caméra 2K basse définition, uniquement une visualisation oculaire avec un grossissement élevé déformé sortie.
3. Ajustement du grossissement :Plage de grossissement à quatre vitesses de 190 à 1900X, couvrant un aperçu macro et inspection des micro-détails. Les microscopes métallurgiques ordinaires ont moins de grossissements et des images floues à haute puissance.
4. Mesure et enregistrement :Mesure précise intégrée sur le moniteur avec enregistrement photo-vidéo capacité. Les microscopes métallurgiques ordinaires n'ont pas de mesure embarquée et nécessitent un logiciel PC pour toutes les analyses et l'archivage.
Semi-conducteurs et microélectronique (application principale DIC) :
Plaquettes de silicium, tranches de lithographie, puces IC, PCB, circuits flexibles FPC, joints de soudure, composants d'emballage.
Cibles d'inspection : topographie de la surface des puces, motifs de gravure sur tranche, nano-rayures, joints de soudure à froid,
oxydation et déformation des broches. Le contraste d'interférence différentielle (DIC) met en évidence de subtiles différences de hauteur de surface
pour l'observation de tranches de microcircuit dans une plage de grossissement de 190 à 1900 ×.
Échantillons de métaux métallographiques :
Sections métallographiques en alliage, acier, quincaillerie métallique emboutie avec précision.
Cibles d'inspection : structure des grains métalliques, analyse du traitement thermique, microfissures de surface, écaillage des bords, bavures fines,
traces d'usure et impuretés internes de la matière. Modes champ clair/fond sombre/lumière polarisée pour cristal métallique
observation des structures.
Échantillons de laboratoire : cristaux, poudres, fibres et couches minces :
Cristaux chimiques, poudre métallique, fibre de carbone, films de revêtement optique.
Observer la morphologie des cristaux, les contours des particules, le délaminage du film et les textures des micro-revêtements ; lumière polarisée
identifie les caractéristiques de polarisation cristalline.
Composants optoélectroniques et plastiques de précision :
Puces LED, lentilles optiques, substrats en verre, colle pour emballages de semi-conducteurs.
Détectez les micropores, les nano-rayures, le délaminage de la colle, les bulles, les taches et les irrégularités subtiles de la surface.
Composants miniatures de haute précision :
Connecteurs, bornes, micro-ressorts, petites pièces embouties.
Mesure précise au niveau de 4K pixels des écarts, des diamètres de trous, des différences de pas et de hauteur de surface ; DIC visualise
subtile déformation par sertissage.
Laboratoires universitaires et contrôle qualité des semi-conducteurs haut de gamme :
Expériences de recherche sur les matériaux, inspection des marchandises entrantes sur les plaquettes, observation d'échantillons métallographiques ; photo-vidéo
archivage, exportation de rapports QC de mesures précises via un PC connecté.
Mécanique:Construction entièrement métallique pour une rigidité et une résistance aux vibrations élevées. Précision mise au point grossière-fine sans jeu. Platine mécanique XY manuelle de haute précision avec une faible usure et un minimum dégagement. Le chemin optique trinoculaire maintient le co-alignement optique lors du changement d'objectif.
Optique:Objectifs métallurgiques plan-achromatiques corrigés à l'infini avec revêtement dur anti-buée. Éclairage par lampe halogène 12 V-100 W en transmission-réflexion.
Imagerie et mesure :Caméra CMOS industrielle 4K de 8,3 mégapixels. Double sortie : HDMI + Gigabit-LAN port, bonnes performances anti-interférences pour une utilisation en environnement industriel. Prend en charge les mesures intégrées sur le moniteur et mesure du logiciel PC. Stockage à double chemin via U-disk et logiciel PC. Synthèse de profondeur de champ et assemblage d'images disponible uniquement sur le logiciel PC. Interface de développement secondaire disponible sur Gigabit-LAN.
Équipé d’une imagerie native 3840*2160 4K. Convient pour l'analyse métallographique, l'inspection des circuits à puce et génération de rapports de tests professionnels, révélant clairement les grains métalliques, les micro-rayures et les minuscules micro-défauts.
Conception à mise au point manuelle, adaptée aux échantillons statiques de laboratoire et au remplacement de pièces à basse fréquence. Stable mise au point Boutons pour une observation précise et à long terme des échantillons statiques.
Platine mobile manuelle standard et chemin optique métallurgique trinoculaire vertical pour tranches de copeaux de petite à moyenne taille PCB et des échantillons métalliques, supprimant efficacement l'éblouissement réfléchissant pour l'inspection métallographique.
Plage de double grossissement : grossissement optique 50-500X, grossissement numérique 190-1900X. Couvre à la fois le spécimen complet aperçu et inspection des micro-grains/micro-défauts.
Prend en charge la mesure intégrée sur l'appareil et la mesure par logiciel PC. Equipé d'un port HDMI + Gigabit-LAN. Photos, les vidéos et les données de mesure peuvent être enregistrées via un disque U ou un ordinateur compatible. Développement secondaire soutenu pour intégration de la ligne de production et traçabilité des données de laboratoire.
Une expédition dans un emballage neutre est disponible sur demande.
| Modèle | GP-L600-324K |
| Résolution | 3840×2160 |
| De vrais pixels efficaces | 8 300 000 pixels |
| Méthode de mise au point | Mise au point manuelle |
| Format optique | 1/1,7" |
| Taille des pixels | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Méthode de sortie | Port LAN HDMI + Ethernet Gigabit |
| Introductions fonctionnelles détaillées correspondant à chaque interface de sortie | ① HDMI se connecte aux écrans compatibles 4K. Prise en charge du micrologiciel de traitement d'image professionnel intégré
enregistrement de photos, enregistrement vidéo, mesure dimensionnelle, lecture d'images et comparaison d'images, actionné
par la souris en temps réel. ② Le port LAN Gigabit se connecte aux routeurs, commutateurs ou ordinateurs pour le réseau photo transmission. Les ordinateurs appartenant au même segment de réseau peuvent recevoir des vidéos en temps réel et déclencher la capture. via un logiciel de correspondance. |
| Fréquence d'images | HDMI : 60 ips à 3 840 × 2 160 Réseau local Gigabit : 20 images par seconde à 1 920 × 1 080 |
| Synthèse de profondeur de champ | / |
| Assemblage d'images | / |
| Méthode de mesure | Système de mesure intégré sur moniteur + mesure par logiciel PC |
| Précision des mesures | 0,001 mm |
| Unités de mesure | mm / μm / mil / pouce (4 unités commutables) |
| Outils de mesure | Longueur, angle, radian, cercle, polygone, polyligne, distance centre à centre, rectangle, annotation ajoutant, détection automatique des bords, barre d'échelle et plus encore |
| Méthode de stockage | Stockage sur disque U + stockage de logiciels PC |
| Langue d'affichage | Chinois simplifié/anglais (commutable) |
| Processeur | Processeur de contrôle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Système opérateur | Micrologiciel de mesure développé indépendamment basé sur le noyau Linux 3.1 |
| Nommage des images | Dénomination automatique ou manuelle disponible |
| Tête de visualisation | Tête trinoculaire à charnière inclinée à 30° ; plage de réglage inter-pupillaire : 54-76 mm ; deux diviseurs de faisceau rapports : 100:0, 0:100 |
| Modes d'observation | ★ Champ clair/champ sombre/lumière polarisée/DIC (le matériel DIC est facultatif) |
| Système d'éclairage | Système d'éclairage à lumière tombante transmis-réfléchi, entrée large tension 100-240 V, réglable filament au centre, intensité lumineuse réglable en continu. |
| Rester | ① Rack à double usage transmis-réfléchi ; mécanisme de mise au point coaxial grossier-fin à position basse.
Course de réglage grossier : 33 mm ; précision du réglage fin : 0,001 mm. Equipé de verrouillage et de limitation
appareils. ② Réflecteur de champ clair et de champ sombre avec arrêt d'ouverture variable, arrêt de champ et assemblage à centre réglable. ③ Filtre d'interférence et plaque de balance des couleurs (lumière blanche) pour chemin optique de la lumière réfléchie. ④ Dispositif de commutation sur champ clair-obscur ; emplacements pour filtres de couleur et accessoires polarisants. |
| Scène mécanique | Platine mécanique manuelle de 4 pouces. Dimension de la scène : 230 mm × 215 mm ; Déplacement X-Y : 105 mm × 105 mm. Verre plaque porte-échantillon pour l'observation transmise et réfléchie. |
| Source de lumière | Chambre de lampe halogène 12 V 100 W (lumière réfléchie) ; Lampe halogène 12V 100W (lumière transmise). |
| Fonction de polarisation | Prise polarisante à 30 degrés (lumière réfléchie) ; Prise analyseur rotative à 360° pour lumière polarisée observation. |
| Oculaires | Deux oculaires à champ plan grand angle PL10X/22 mm avec dioptrie réglable (un oculaire avec réticule échelle). |
| Embout nasal | ★ Embout d'objectif à cinq trous à champ clair et sombre |
| Fonction CIB | Fonction différentielle-interférence-contraste ; Les accessoires de la carte d'insertion DIC sont facultatifs et non inclus dans configuration standard. |
| Interface électronique | Interface de caméra à monture C 0,5X, mise au point réglable ; CTV 1X est optionnel avec compensation de différence de prix. |
| Objectifs métallurgiques | ★ Objectifs métallurgiques semi-destructifs en champ clair et sombre ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, fonctionnel Distance : 9,00 mm × 1 pièce ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, distance de travail : 9,00 mm × 1 pièce ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, distance de travail : 3,40 mm × 1 pièce ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, distance de travail : 7,50 mm × 1 pièce ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, distance de travail : 2,10 mm (en option, non inclus dans l'emballage standard) |
| Grossissement optique | 50X, 100X, 200X, 500X (commutable sur quatre niveaux) |
| Grossissement électronique | Env. 190X, 380X, 760X, 1900X (commutable sur quatre niveaux) ; plage de grossissement en option : 380-3800X. |
Les microscopes GAOPIN sont utilisés par les principales entreprises, instituts de recherche et universités. Notre collaboration les relations comprennent :
Université de commerce de Tianjin – Enseignement des matériaux en laboratoire, micro-imagerie et archivage des données expérimentales
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Détection dimensionnelle et micro-défauts pour l'usinage de précision pièces
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Inspection de précision des connecteurs et des composants
Institut d'optique et de mécanique fine de Shanghai, CAS – Recherche optique avancée et caractérisation des composants optiques
Université Xi'an Jiaotong – Observation expérimentale en science avancée des matériaux et en optique de précision
Institut de céramique de Shanghai, CAS – Micro-analyse de céramiques inorganiques et de matériaux à énergie nouvelle
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. a été officiellement fondée en 2011. Notre équipe fondatrice a accumulé profondément enraciné expertise en instrumentation-inspection-optique remontant à 2005. Nous sommes une entreprise axée sur la technologie livrer des services complets couvrant la conception, la R&D, les ventes mondiales et le support après-vente pour les microscopes industriels. Notre noyau L'équipe d'ingénierie possède plus de dix ans d'expérience spécialisée dans le développement d'instruments optiques pour assurer une technologie stable et éprouvée et une qualité fiable et constante.
GAOPIN gère un vaste catalogue de produits avec plus d'une centaine de modèles d'instruments optiques pour le monde entier. clients. Nous développons des solutions de microscopie personnalisées flexibles et rentables pour diverses inspections industrielles et exigences de recherche en laboratoire.
Un support technique mondial à réponse rapide est disponible pour les clients étrangers, y compris des réunions en ligne, des conseils vidéo étape par étape et des sessions de formation à distance. Notre base de fabrication est située à Kunshan, Jiangsu Province (près de Shanghai). Les visites d'usine sur site et les visites virtuelles en ligne sont les bienvenues. Veuillez contacter notre équipe commerciale pour images authentiques de tests d'échantillons capturées par ce microscope métallurgique d'inspection de plaquettes avec 4K Ultra HD pour évaluer performances d'imagerie du monde réel.
A1 : équipé de deux interfaces de sortie HDMI haute définition et de port LAN. Il prend en charge l'imagerie en temps réel en connexion directe à un moniteur et connexion à un ordinateur via un câble réseau. Sans interfaces USB et WIFI, il prend en charge à la fois le fonctionnement indépendant et le travail collaboratif informatique.
A2 : Il prend en charge l’enregistrement photo et vidéo 4K ultra-HD. Les fichiers peuvent être enregistrés sur un disque U au format FAT32 dans un délai de 32 Go capacité ou stockage informatique. Prend en charge les mesures précises à la fois à l'écran et sur logiciel PC, avec sauvegarde des données et fonctions d'exportation de rapports.
A3 : Vérifiez l’alimentation et l’adaptateur correspondant ; fixez fermement le câble HDMI ; commutez le moniteur pour corriger la source du signal HDMI ; redémarrez l'appareil pour résoudre les problèmes d'écran noir et d'absence d'image.
A4 : Il s’agit d’un modèle à mise au point manuelle. Ajustez lentement le volant de mise au point pour une imagerie nette. Verrouillez fermement l'objectif, posez-le échantillonnez à plat et nettoyez régulièrement la poussière et les taches de l'objectif.
A5 : Assurez-vous que le microscope et le PC se trouvent dans le même segment IP ; désactiver le pare-feu et le logiciel d'interception ; réinstaller câble réseau; redémarrez l'appareil et le logiciel de mesure pris en charge pour établir une connexion normale.
Adresse
Bâtiment 2, centre d'affaires international Shuanglian, ville de Huaqiao, ville de Kunshan, Chine
Tél
