Le microscope métallurgique GP-L600-300C pour l'inspection des plaquettes est un microscope métallurgique d'inspection des plaquettes spécialement conçu pour la microstructure des matériaux. inspection. Équipé d'un système optique à lumière réfléchie haute résolution et d'une fonction d'interférence différentielle DIC, il génère images en stéréo-relief pour l'observation des structures granulaires, des fissures, des inclusions et des couches de revêtement de métaux, alliages, semi-conducteurs et autres matériaux. Avec une caméra industrielle intégrée, il prend en charge la capture d'images et sur le moniteur mesure; L'évaluation de la taille des grains est disponible avec un logiciel de support en option. Largement appliqué dans contrôle qualité, scénarios d'analyse de défaillance et de recherche en science des matériaux.
Ce microscope métallurgique pour l'inspection des plaquettes convient à l'observation microscopique des microstructures métallographiques et de la morphologie de surface. Il constitue un outil de recherche idéal pour les disciplines de la métallurgie, de la minéralogie et de l'ingénierie de précision.
1. Visualisation binoculaire et observation électronique synchrone :Vue oculaire et affichage du moniteur travailler de manière synchrone. Les microscopes métallurgiques ordinaires ne prennent en charge que l'observation oculaire ; accessoires d'appareil photo supplémentaires sont requis pour la sortie à l’écran.
2. Corps mécanique de haute précision :Structure mécanique rigide avec chemin optique stable, adaptée pour les travaux d'analyse des semi-conducteurs et des matériaux. Les microscopes métallurgiques conventionnels offrent des performances mécaniques inférieures précision.
3. Sortie HDMI directe :Sortie d'image en temps réel pour surveiller via un câble HDMI. Métallurgie générale les microscopes nécessitent des caméras et des cartes de capture séparées pour la sortie des images.
4. Mesure hors ligne sur moniteur :La mesure des dimensions peut être effectuée directement sur le moniteur sans connexion PC. Les microscopes métallurgiques ordinaires reposent exclusivement sur la mesure par logiciel PC.
5. Stockage sur disque U hors ligne :Enregistrez des photos et des vidéos sur un disque U sans ordinateur. Traditionnel les modèles doivent se connecter au PC pour enregistrer les images.
6. Chemin optique métallurgique dédié :Optimisé pour les grains métalliques, les revêtements, les semi-conducteurs et contrôle métallographique. Les microscopes numériques ordinaires n'ont pas ce chemin optique spécialisé et ne peuvent pas visualiser structures métallographiques.
Caméra HD intégrée au boîtier trinoculaire pour une visualisation simultanée via oculaire et moniteur. Micro-image HDMI en temps réel la sortie combine les flux de travail d’observation et d’enregistrement.
Prend en charge l'observation DIC, en champ clair, en champ sombre et en lumière polarisée. Grossissement en 4 étapes, optique 50-500X, max numérique grossissement jusqu'à 1900X, offrant des détails nets pour l'inspection des micro-caractéristiques.
Les boutons de mise au point doubles associés à un ensemble objectif-barillet renforcé permettent une mise au point stable et minimisent les tremblements de l'image.
Corps en métal intégré épais et support de scène avec centre de gravité bas, gardant des performances stables pendant longue durée observation en laboratoire.
Structure minimaliste en métal rigide entièrement blanc avec disposition optique modulaire, bien adaptée aux laboratoires et à la recherche instituts.
Idéal pour l'inspection des plaquettes, l'analyse métallographique, la caractérisation des microstructures des matériaux, la recherche universitaire et travail d’évaluation précision-qualité.
Capture photo et vidéo 1080P, mesure intégrée sur le moniteur, stockage sur disque U. Les images numériques simplifient l'archivage des fichiers, comparaison et analyse post-expérience.
Mécanique:Construction entièrement métallique pour une rigidité et une résistance aux vibrations élevées. Précision mise au point grossière-fine sans jeu. Platine mécanique XY manuelle de haute précision avec une faible usure et un minimum dégagement. Le chemin optique trinoculaire maintient le co-alignement optique pendant la commutation du grossissement.
Optique:Objectifs métallurgiques plan-achromatiques corrigés à l'infini avec revêtement dur anti-buée. Éclairage par lampe halogène 12 V-100 W en transmission-réflexion.
Imagerie et mesure :Caméra HDMI 1080P de qualité industrielle avec une excellente anti-interférence performances, adaptées au fonctionnement en environnement industriel. Les mesures sont effectuées via le micrologiciel sur l'écran.
Environnement opérationnel :Température de fonctionnement 10-35℃, humidité relative 30-75% HR. Performances stables dans un environnement électromagnétique d'usine régulier. Évitez les fortes vibrations, les gaz corrosifs et les fortes poussières.
Qualité et entretien :Inspection d'usine de l'article complet. Ne démontez pas les modules optiques. Régulier le nettoyage anti-poussière prolongera la durée de vie.
Semi-conducteurs et microélectronique (application principale DIC) :
Plaquettes de silicium, tranches de lithographie, puces IC, PCB, circuits flexibles FPC, joints de soudure, composants d'emballage.
Cibles d'inspection : topographie de la surface des puces, motifs de gravure sur tranche, nano-rayures, joints de soudure à froid,
oxydation et déformation des broches. Le contraste d'interférence différentielle (DIC) met en évidence les différences subtiles de hauteur de surface
pour l'observation de tranches de microcircuit dans une plage de grossissement de 190 à 1900 ×.
Échantillons de métaux métallographiques :
Sections métallographiques en alliage, acier, quincaillerie métallique emboutie avec précision.
Cibles d'inspection : structure des grains métalliques, analyse du traitement thermique, microfissures de surface, écaillage des bords, bavures fines,
traces d'usure et impuretés internes de la matière. Modes champ clair/fond sombre/lumière polarisée disponibles pour le métal
observation de la structure cristalline.
Échantillons de recherche en laboratoire : cristaux, poudres, fibres et couches minces :
Cristaux chimiques, poudre métallique, fibre de carbone, fibre textile, films de revêtement optique.
Observer la morphologie des cristaux, les contours des particules, le délaminage du film et les textures des micro-revêtements ; lumière polarisée
identifie les caractéristiques de polarisation cristalline.
Composants optoélectroniques en plastique de précision :
Puces LED, lentilles optiques, substrats en verre, colle pour emballages de semi-conducteurs.
Détectez les micropores, les nano-rayures, le délaminage de la colle, les bulles et les subtiles irrégularités de surface.
Composants miniatures de haute précision :
Connecteurs, bornes, micro-ressorts, petites pièces embouties.
Mesure précise au niveau des pixels pour les écarts, les diamètres des trous, les différences de pas et de hauteur de surface ; DIC visualise
subtile déformation par sertissage.
Laboratoires universitaires et contrôle qualité des semi-conducteurs haut de gamme :
Expériences de recherche sur les matériaux, inspection des marchandises entrantes sur les plaquettes, observation d'échantillons métallographiques ; photo-vidéo
archivage.
Équipé d’une imagerie HD native 1920*1080. Convient pour l'observation métallographique et l'inspection des semi-conducteurs de base et génération de rapports de laboratoire simples ; affiche clairement les grains métalliques et les minuscules défauts de circuit.
Conception à mise au point manuelle, adaptée aux échantillons statiques en laboratoire et au remplacement de pièces à basse fréquence. Mise au point stable structure avec un réglage précis pour une observation détaillée des échantillons statiques.
Platine mobile manuelle standard et chemin optique métallurgique trinoculaire vertical pour les échantillons métalliques, les tranches de copeaux et PCB de taille moyenne à petite, supprimant efficacement l'éblouissement réfléchissant pour l'inspection métallographique de base.
Plage de double grossissement : grossissement optique 50-500X, grossissement numérique 190-1900X. Couvre à la fois le spécimen complet aperçu et inspection des micro-grains/micro-défauts.
Fonction de mesure intégrée sur l'appareil, sortie HDMI en temps réel, disque U pour enregistrer les photos d'inspection et les mesures. données, à des fins d’archivage de base en laboratoire.
Une expédition dans un emballage neutre est disponible sur demande.
| Article | Description |
| Produit | Microscope métallurgique d'inspection de plaquettes GP-L600-300C |
| Catégorie | Microscope métallurgique trinoculaire de qualité recherche en laboratoire, prend en charge les interférences différentielles DIC, observation en champ clair / champ sombre / lumière polarisée |
| Technologies de base | Système optique trinoculaire à visualisation synchrone, éclairage intégré multimode (champ clair, champ sombre, polariseur, DIC à interférence différentielle-contraste), haute précision professionnelle métallurgique ensemble d'objectifs, capteur d'imagerie CMOS HD, module de mesure numérique de précision intégré, HDMI sortie vidéo en temps réel, technologie de stockage d'images locales sur disque U |
| Spécifications clés | Grossissement visuel : 50/100/200/500× ; Grossissement électronique : 190/380/760/1900× ; Interface de sortie : HDMI seulement; Résolution de capture : 1920*1080 ; Mise au point manuelle uniquement ; Fonction de mesure précise intégrée ; Disque U stockage; Le terminal de moniteur prend en charge la prévisualisation d'images HD, la capture de photos et l'enregistrement vidéo ; Observations Modes inclure les interférences différentielles, le champ clair, le champ sombre et la lumière polarisée. |
| Applications typiques | Analyse des défaillances de plaquettes de semi-conducteurs, tests métallographiques de matériaux métalliques, revêtement de couches minces observation de la microstructure, inspection de précision des emballages de semi-conducteurs, recherche-en-laboratoire-de-nouveaux-matériaux, observation médicale des biomatériaux, détection de micro-défauts pour les composants électroniques |
| Fabricant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Emplacement du fabricant | Kunshan, Jiangsu, Chine (à côté de Shanghai) |
| Modèle | GP-L600-300C |
| Résolution | 1920 × 1080 |
| De vrais pixels efficaces | 2 mégapixels |
| Méthode de mise au point | Mise au point manuelle uniquement |
| Format optique | 1/2" |
| Taille des pixels | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Méthode de sortie | HDMI |
| Introduction détaillée pour les interfaces de sortie | ① HDMI se connecte aux écrans compatibles 4K. Prise en charge du micrologiciel de traitement d'image professionnel intégré enregistrement de photos, enregistrement vidéo, mesure dimensionnelle, lecture d'images et comparaison d'images, actionné par la souris en temps réel. |
| Fréquence d'images | HDMI : 60 ips à 1920*1080 |
| Synthèse de profondeur de champ | / |
| Assemblage d'images | / |
| Méthode de mesure | Système de mesure intégré sur moniteur |
| Précision des mesures | 0,001 mm |
| Unités de mesure | mm / μm / mil / pouce (4 unités commutables) |
| Outils de mesure | Longueur, angle, radian, cercle, polygone, polyligne, distance centre à centre, rectangle, annotation ajoutant, détection automatique des bords, barre d'échelle et plus encore |
| Méthode de stockage | Stockage sur disque U |
| Langue d'affichage | Chinois simplifié/anglais (commutable) |
| Processeur | ARM Cortex-A7 double cœur à 1,3 GHz maximum |
| Système opérateur | Micrologiciel de mesure développé indépendamment basé sur le noyau Linux 3.1 |
| Nommage des images | Dénomination automatique ou manuelle disponible |
| Tête de visualisation | Tête trinoculaire à charnière inclinée à 30° ; plage de réglage inter-pupillaire : 54-76 mm ; deux diviseurs de faisceau rapports : 100:0, 0:100 |
| Modes d'observation | ★ Champ clair/champ sombre/lumière polarisée/DIC (le matériel DIC est facultatif) |
| Système d'éclairage | Système d'éclairage à lumière tombante transmis-réfléchi, entrée large tension 100-240 V, réglable filament au centre, intensité lumineuse réglable en continu. |
| Rester | ① Rack à double usage transmis-réfléchi ; mécanisme de mise au point coaxial grossier-fin à position basse.
Course de réglage grossier : 33 mm ; précision du réglage fin : 0,001 mm. Equipé de verrouillage et de limitation
appareils ② Réflecteur de champ clair et de champ sombre avec arrêt d'ouverture variable, arrêt de champ et assemblage à centre réglable. ③ Filtre d'interférence et plaque de balance des couleurs (lumière blanche) pour chemin optique de la lumière réfléchie. ④ Dispositif de commutation sur champ clair-obscur ; emplacements pour filtres de couleur et accessoires polarisants. |
| Scène mécanique | Platine mécanique manuelle de 4 pouces. Dimension de la scène : 230 mm × 215 mm ; Déplacement X-Y : 105 mm × 105 mm. Verre plaque porte-échantillon pour l'observation transmise et réfléchie. |
| Source de lumière | Chambre de lampe halogène 12 V 100 W (lumière réfléchie) ; Lampe halogène 12V 100W (lumière transmise). |
| Fonction de polarisation | Prise polarisante à 30 degrés (lumière réfléchie) ; Prise analyseur rotative à 360° pour lumière polarisée observation. |
| Oculaires | Deux oculaires à champ plan grand angle PL10X/22 mm avec dioptrie réglable (un oculaire avec réticule échelle). |
| Embout nasal | ★ Embout d'objectif à cinq trous à champ clair et sombre |
| Fonction CIB | Fonction différentielle-interférence-contraste ; Les accessoires de la carte d'insertion DIC sont facultatifs et non inclus dans configuration standard. |
| Interface électronique | Interface de caméra à monture C 0,5X, mise au point réglable ; CTV 1X est optionnel avec compensation de différence de prix. |
| Objectifs métallurgiques | ★ Objectifs métallurgiques semi-destructifs en champ clair et sombre ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, fonctionnel Distance : 9,00 mm × 1 pièce ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, distance de travail : 9,00 mm × 1 pièce ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, distance de travail : 3,40 mm × 1 pièce ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, distance de travail : 7,50 mm × 1 pièce ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, distance de travail : 2,10 mm (en option, non inclus dans l'emballage standard) |
| Grossissement optique | 50X, 100X, 200X, 500X (commutable sur quatre niveaux) |
| Grossissement électronique | Env. 190X, 380X, 760X, 1900X (commutable sur quatre niveaux) ; plage de grossissement en option : 380-3800X. |
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NIO Shanghai – Inspection de précision pour les pièces automobiles et les faisceaux de câbles à énergie nouvelle
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ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Apparence et vérification de la micro-qualité pour pièces-standard-industrielles
Institut de technologie de Pékin – Recherche-analyse scientifique sur les matériaux militaires et les dispositifs optoélectroniques
GREE Electric Appliances (Hefei) – Mesure dimensionnelle de précision et inspection des défauts des pièces d’appareils électroménagers
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A1 : Seule la sortie HDMI haute définition est équipée. Il n'y a pas de port USB, WIFI ou LAN. La connexion à l'ordinateur n'est pas pris en charge ; il fonctionne indépendamment avec un moniteur pour des flux de travail simples.
A2 : Vérifiez l'alimentation électrique et l'adaptateur correspondant ; fixez fermement le câble HDMI ; commutez le moniteur pour corriger la source du signal HDMI ; redémarrez l'appareil pour résoudre les problèmes d'écran noir et d'absence d'image.
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